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    雷達液位計故障S441

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    解決發射電極臟污也是一個非常麻煩的問題。造成發射電極臟污的主要原因主要有兩個方面:一是攪拌電機甩漿導致發射電極臟污,二是容器內蒸汽冷卻后形成的水珠附著在發射電極上阻礙了微波的發射。
    在現場我們注意到,一定功率下的電機甩漿高度都不超過某一特定高度。從這一發現可以得出:當雷達液位計的安裝高度高于某一特定高度后,攪拌電機甩漿就不可能對發射電極造成任何影響。怎樣避免容器內蒸汽冷卻后形成水珠,這在現場環境下,這基本是不可能實現的。在查閱資料過程中,我們發現廠家有一種材料為特氟龍的隔離裝置,這種材質即不妨礙微波的發射,同時又能起到隔離的作用。將隔離裝置按一定方式安裝后,可以防止容器內蒸汽與發射電極隔離開來,同時使附著在隔離裝置上的冷凝水在形成后按一定形式分布,達到不影響微波發射。
    (雷達液位計故障S441)

    2、雷達液位計工作原理
    調頻連續波(FMCW測量原理。如圖2所示,雷達液位計向液體表面發射微波,而約為10GH帶寬的微波信號連續地改變頻率。在雷達信號被液面反射后,回波被天線接收。由于信號頻率不斷變化,與此時發射的信號相比,回波的頻率稍微有所不同。頻率的差異與到達液面的距離成比例,因此可得到空高。罐高減去空高,即為液位值。該方法稱為調頻連續波方法。并用于所有高性能雷達液位計。(另一種為微波脈沖時間行程(PTOF)測量原理:D=c/2
    3、雷達液位計的標定
    液位測量值與手檢尺值有偏差時,需要對液位計進行修正,即液位計的標定
    (雷達液位計故障S441)

    (雷達液位計故障S441)

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    層非導電與下層導電液體的界位。典型應用是油水界位測量,但需注意介電常數對雷達波速度的影響,上層物料的介電常數必須精確輸入雷達,液界位已知時則可反算介電常數。
    1.2.2不宜接觸介質的情況
    使用介質接觸測量方法就意味著放棄了非介質接觸式測量的優點,以下情況應使用非接觸測量方法:
    1)高黏度、嚴重沉積和結晶的介質。污染物或沉積物容易積聚在探頭或穩液井內壁上。薄的、均勻的積聚物對測量有輕微的影響;厚的積聚物會造成信號衰減并減小測量范圍;厚重、不均勻的粘附物形成結疤處有可能被錯誤地評定為界位,導致不正確的測量。相對來說,同軸探頭與雙探頭抗干擾的能力最強,也最容易受掛料的影響。該種情況下,應采用非接觸式測量方法。注意此時一般有加熱盤管、攪拌葉片、攪拌產生的泡沫漩渦、湍動液面、物料揮發、蒸汽等不利測量的因素存在,這些都是非接觸雷達選型安裝時要著重考慮的。
    (雷達液位計故障S441)

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